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 首頁(yè) > 產(chǎn)品分類 > 芯片/PCB級(jí)測(cè)試及整改設(shè)備 > 近場(chǎng)探頭 |
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近場(chǎng)探頭 |
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針對(duì)越來越復(fù)雜的電子產(chǎn)品，LANGER公司開發(fā)了多種近場(chǎng)測(cè)試探頭，用于近場(chǎng)測(cè)試和產(chǎn)品整改（Debug）。
整改測(cè)試可用于產(chǎn)品研發(fā)的任何階段主要目的是找出干擾源并了解干擾的頻率和能量。 |
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| 整改測(cè)試量測(cè)設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺(tái)頻譜分析儀組成。 |
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| 所有的電磁干擾都可分為兩種分量：一個(gè)是磁場(chǎng)分量、一個(gè)是電場(chǎng)分量。這兩個(gè)分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場(chǎng)量測(cè)。 |
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| 電磁兼容修改一般是用近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場(chǎng)量測(cè)。所以，可用電場(chǎng)探棒和磁場(chǎng)探棒分別量測(cè)電場(chǎng)源和磁場(chǎng)源。可根據(jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強(qiáng)度，從而找出輻射大的零件或電路。 |
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| 所有的電磁干擾都可分為兩種分量：一個(gè)是磁場(chǎng)分量、一個(gè)是電場(chǎng)分量。這兩個(gè)分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場(chǎng)量測(cè)。所以，可用電場(chǎng)探棒和磁場(chǎng)探棒分別量測(cè)電場(chǎng)源和磁場(chǎng)源。可根據(jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強(qiáng)度，從而找出輻射大的零件或電路。 |
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| 可采用不同的方式，向電子模塊直接注入突發(fā)性的電場(chǎng)干擾或磁場(chǎng)干擾，進(jìn)而定位電路板上的弱點(diǎn)，且可理解其耦合原理，幫助工程師排除ESD和EFT問題。 |
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